＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Вес: 100 kg
... Выпущен новый электронный микроскоп с атомным разрешением! Модель "GRAND ARM™2" была модернизирована. Новый "GRAND ARM™2" позволяет проводить наблюдения с ультравысоким пространственным разрешением ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,19, 0,23 nm
... JEM-F200 - это новый полевой эмиссионный просвечивающий электронный микроскоп, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками, простой ...
Jeol
Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm
... этих потребностей новый электронный микроскоп с напряжением 120 кВ "JEM-1400Flash" оснащен высокочувствительной камерой sCMOS, системой монтажа сверхширокой области и функцией привязки изображений к оптическому микроскопу ...
Jeol
Увеличение : 3 500 unit - 100 000 unit
... JSM-7900F - новый флагманский FE-SEM компании JEOL, сочетающий в себе чрезвычайно высокое разрешение изображения, повышенную стабильность и исключительную простоту использования для оператора любого уровня ...
Jeol
Увеличение : 10 unit - 2 740 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,3 nm
... (Live Image Visual Enhancer - Artificial Intelligence)". Это обеспечивает оптимальное сочетание высокого пространственного разрешения изображения и высокой оперативности. Кроме того, ...
Jeol
... сканирующего электронного микроскопа для наблюдения тонких структур с большим увеличением и большим разрешением. Объекты наблюдения, найденные с помощью оптического микроскопа, можно ...
Jeol
Увеличение : 20 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,2, 4, 1,6 nm
... наблюдения с высоким разрешением и быстрый анализ. Для колонны FIB используется ионный пучок Ga с высокой плотностью потока и максимальным током зондирования до 90 нА для быстрого ионного ...
Jeol
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось