Микроскопы для нанотехнологии Hitachi

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... разработан для решения этих и других задач, предоставляя расширенную информацию для различных потребностей в области электронной микроскопии. Познайте наномир с помощью SU7000! Универсальные возможности получения изображений SU7000 ...

Пространственное разрешение: 1,2 nm

... Wizard новички в одночасье становятся экспертами. - Технология автоматической регулировки осей (автокалибровка) возвращает микроскоп в его "наилучшее состояние" по требованию. - Прочная "выдвижная" камера для образцов ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать многие ...

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 5, 15 nm

... энергии, что делает его экономичным аналитическим инструментом без ущерба для производительности. Сканирующий электронный микроскоп FlexSEM 1000 II оснащен недавно разработанными электронно-оптическими системами и системами ...

Увеличение : 10 unit - 25 000 054 unit
Вес: 54 kg
Длина: 614, 617 mm

... инновациями и передовыми технологиями, которые по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту ...

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... источники питания для повышения производительности прибора - Возможность одновременного получения изображений с Cs-коррекцией в SEM и STEM с атомным разрешением - Новый высокостабильный штатив для образцов с боковым входом ...

Вес: 990 kg
Ширина: 1 190 mm
Высота: 1 800 mm

... Hitachi NP6800 - это специализированная измерительная система на базе РЭМ, разработанная для удовлетворения аналитических потребностей полупроводниковых устройств с 10-нм технологическим узлом и выше. Прецизионный привод с пьезоэлектрическим ...

... Hitachi NE4000 nanoEBAC - это электронно-лучевая измерительная система, предназначенная для определения электрических характеристик, анализа и визуализации межсоединений, материалов и компонентов микроэлектронных устройств. Метод поглощенного ...