＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Рентгеновская система размерной метрологии Axion® T2000 производит высокоразрешающие, быстрые, точные, неразрушающие 3D-измерения формы структур с высоким соотношением сторон, используемых в передовых 3D-чипах NAND и DRAM. Используя инновационную ...
KLA Corporation
... Оптические системы измерения критических размеров (CD) и формы Система измерения размеров SpectraShape™ 12k используется для полного определения характеристик и контроля критических размеров (CD) и трехмерных форм нанолистов, ...
KLA Corporation
... метрологическая система SpectraFilm F1 обеспечивает надежные, высокоточные измерения толщины тонких и толстых пленок, коэффициента преломления и напряжения для широкого спектра пленочных слоев на 7-нм проектном узле и далее. Пленочная ...
KLA Corporation
... метрологическая система Aleris® 9350 обеспечивает надежные, высокоточные измерения толщины, коэффициента преломления, напряжения и состава пленки для широкого спектра пленок общего назначения, используемых в передовых логических системах, ...
KLA Corporation
... возможности обработки и измерения геометрии пластин в системе PWG5 с узорчатой геометрией для поддержки измерений сцепления между пластинами для передовых упаковочных приложений на уровне пластин. PWG3™ Система измерения ...
KLA Corporation
... фиксировать влияние технологической среды плазменного травления на производственные пластины в реальных условиях процесса. Измерительная система EtchTemp-HD обладает высокой плотностью датчиков, что позволяет контролировать ...
KLA Corporation
... Серия систем измерения температуры пластин HighTemp™, доступных в конфигурациях 300 мм и 200 мм, предназначена для оптимизации и мониторинга передовых пленочных процессов (FEOL и BEOL ALD, CVD и PVD) и других процессов с повышенными температурами. Беспроводные ...
KLA Corporation
... Система измерения температуры пластин WetTemp™ in situ, доступная в конфигурациях 300 мм и 200 мм, обеспечивает мониторинг процессов мокрой очистки и других мокрых процессов. Мониторные пластины серии WetTemp совместимы с большинством ...
KLA Corporation
... Система измерения ультрафиолетового (УФ) света UV Wafer™ in situ 300 мм использует технологию беспроводных сенсорных пластин для измерения дозы и интенсивности УФ-излучения на поверхности пластины в инструментах процесса осаждения пленок. ...
KLA Corporation
... шаблонов на подложках Сопутствующие товары Система метрологии масок для 10-нм технологического узла, поддерживающая измерения как стандартных регистрационных меток, так и особенностей рисунка на устройстве. Система ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки