Микроскоп TEM Spectra 300

для испытания материаловдля полупроводникавысокое разрешение

Микроскоп высокого разрешения TEM и STEM для всех задач материаловедения и полупроводников. Для того чтобы ученые могли лучше понять сложные образцы и разработать инновационные материалы, они должны иметь доступ к надежным, точным приборам, способным соотнести форму и функцию, а также разрешить пространство, время и частоту. Thermo Fisher Scientific представляет Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM - сканирующий просвечивающий электронный микроскоп с высочайшим разрешением и аберрационной коррекцией для всех задач материаловедения. Преимущества просвечивающего электронного микроскопа Spectra 300 Все Spectra 300 (S)TEM поставляются на новых платформах, разработанных для обеспечения беспрецедентного уровня механической стабильности и высочайшего качества изображения благодаря пассивной и (опционально) активной виброизоляции. Система размещена в полностью переработанном корпусе со встроенным экранным дисплеем для удобной загрузки и извлечения образцов. Впервые предлагается полная модульность и возможность модернизации между конфигурациями без коррекции и с одной коррекцией с переменной высотой, что обеспечивает максимальную гибкость для различных конфигураций помещений. Spectra 300 (S)TEM может быть опционально оснащен либо экстремальной полевой эмиссионной пушкой с высоким энергетическим разрешением (X-FEG)/Mono, либо X-FEG/UltiMono со сверхвысоким энергетическим разрешением. Монохроматоры обоих источников автоматически возбуждаются и настраиваются одним щелчком мыши для достижения наивысшего энергетического разрешения, возможного в каждой конфигурации, с помощью OptiMono или OptiMono+ соответственно (см. видео ниже).