Электронный трансмиссионый микроскоп Spectra 200
для контроля качествадля испытания материаловдля полупроводника

электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный трансмиссионый
Применение
для контроля качества, для испытания материалов, для полупроводника
Источник электронов
с холодной полевой эмиссией
Тип объектива
с корректором аберраций
Другие характеристики
высокое разрешение
Пространственное разрешение

0,06 nm, 0,11 nm, 0,16 nm

Описание

Высокопроизводительный микроскоп TEM и STEM для всех задач материаловедения. Для того чтобы ученые могли лучше понять сложные образцы и разработать инновационные материалы, они должны иметь доступ к надежным, точным приборам, способным соотнести форму и функцию, а также разрешить пространство, время и частоту. Thermo Fisher Scientific представляет Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM - высокопроизводительный просвечивающий электронный микроскоп (сканирующий) с аберрационной коррекцией для всех задач материаловедения. Преимущества сканирующего просвечивающего электронного микроскопа Spectra 200 Все Spectra 200 (S)TEM поставляются на новых платформах, разработанных для обеспечения беспрецедентного уровня механической стабильности и высочайшего качества изображения благодаря пассивной и (опционально) активной виброизоляции. Система размещена в полностью переработанном корпусе со встроенным экранным дисплеем для удобной загрузки и извлечения образцов. Впервые предлагается полная модульность и возможность модернизации между конфигурациями без коррекции и с одной коррекцией с переменной высотой, что обеспечивает максимальную гибкость для различных конфигураций помещений. Spectra 200 (S)TEM может работать с новой эмиссионной пушкой холодного поля (X-CFEG). X-CFEG имеет чрезвычайно высокую яркость (>>1,0 x 108 A/м2/Sr/V*), низкий разброс энергии и может работать в диапазоне 30 - 200 кВ. Это обеспечивает получение STEM-изображений высокого разрешения при больших токах зонда для высокопроизводительного и быстрого получения STEM-анализа. Благодаря мощной комбинации X-CFEG и корректора аберраций зонда S-CORR можно регулярно получать субангстремные STEM-изображения при токе зонда более 1000 пА.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.