＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Высокопроизводительные системы контроля узорчатых пластин широкого диапазона Системы контроля образцовых пластин серии 8 обнаруживают широкий спектр дефектов с очень высокой производительностью ...
KLA Corporation
... Электронно-лучевая (e-beam) система контроля дефектов на полупроводниковых пластинах eSL10™ использует самую высокую в отрасли энергию приземления и высокое разрешение для захвата мелких физических дефектов и дефектов ...
KLA Corporation
... Промышленный производственный стандарт для контроля оптических и EUV-сеток 1Xnm / 2XHP. Teron 610: промышленный стандарт для контроля оптических прицелов 2Xnm / 3XHP. TeraScan™ 500XR: промышленный стандарт для контроля ...
KLA Corporation
... Инспекционная система Teron™ SL670e XP2 используется для оценки качества входящих прицелов EUV и для периодической повторной проверки прицелов EUV в процессе производства и после очистки прицелов, помогая чипмейкерам защитить выход продукции ...
KLA Corporation
... Система контроля дефектов заготовок масок FlashScan® 211 помогает масочным цехам и производителям заготовок выполнять требования к дефектам заготовок масок для оптической и EUV-литографии. Система FlashScan ...
KLA Corporation
... Система контроля образцовых пластин Kronos™ 1190XR с оптикой высокого разрешения обеспечивает лучшую в своем классе чувствительность к критическим дефектам для разработки технологических процессов и контроля ...
KLA Corporation
... потоков упаковки. Новейшая система CIRCL-AP поддерживает более широкий диапазон толщин пластин как для модуля контроля и метрологии передней стороны пластины, так и для модуля оптического обзора. Монитор процесса, исходящий ...
KLA Corporation
... Упакованные системы контроля и метрологии ИС Инспектор компонентов ICOS™ T890 обеспечивает высокопроизводительный, полностью автоматизированный оптический контроль компонентов упакованных интегральных ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки