Приборы для контроля для полупроводниковых пластин ONTO

7 компании | 19 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
29xx

... Широкополосные системы плазменного контроля дефектов 2965 и 2950 EP - это достижения в области оптического контроля дефектов, позволяющие обнаруживать критические для выхода продукции дефекты на ≤5-нм ...

Показать другие изделия
KLA Corporation
прибор для контроля с рентгеновским излучением
прибор для контроля с рентгеновским излучением
MFM310

прибор для контроля 3D
прибор для контроля 3D
Proforma 300SA series

... трехмерных (3D) изображений пластин. Для просмотра табличных данных по каждой измеренной пластине с быстрым и простым экспортом в программу электронных таблиц доступны индивидуальные отчеты о данных. ...

прибор для контроля для полупроводниковой пластины
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Firefly®

... сокращая при этом время доставки продукции на рынок. Заявления Упаковка на уровне вентилируемых пластин (FOWLP) / Упаковка на уровне панелей вентилируемых пластин (FOPLP) 2.5D/проекторы Встраиваемый ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
прибор для контроля для полупроводниковой пластины

прибор для контроля 3D
прибор для контроля 3D
WD4000

... стабильный расчет толщины, шероховатости и общей вариации толщины (TTV) пластины. Измерение шероховатости для пластин без рисунка В процессе грубого и тонкого шлифования для утонения ...

оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
MRD-3100 series

... Ball AOI / Bump AOI Prodcut Presentation Оборудование для контроля частиц серии MRD-3100 для COG, FOG и COF продукции, в частности для обнаружения дефектов скрепления модуля ЖК-дисплея. Лидирует в отрасли, достигая технического ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки