Прибор для контроля для полупроводниковой пластины с оптическим микроскопом
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Применение
- для полупроводниковой пластины
- Другие характеристики
- с оптическим микроскопом
Описание
Микроскоп случая светлый для осмотра вафли
основание гранита в портальной конструкции
пробка света случая с башенкой объектива
waferchuck вакуума
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Walter Uhl
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.