＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... обработки и измерения геометрии пластин в системе PWG5 с узорчатой геометрией для поддержки измерений сцепления между пластинами для передовых упаковочных приложений на уровне пластин. PWG3™ Система ...
KLA Corporation
... измерения температуры пластин EtchTemp™, доступных в конфигурациях 300 мм и 200 мм, позволяет фиксировать влияние технологической среды плазменного травления на производственные пластины в реальных условиях процесса. ...
KLA Corporation
... температуры пластин HighTemp™, доступных в конфигурациях 300 мм и 200 мм, предназначена для оптимизации и мониторинга передовых пленочных процессов (FEOL и BEOL ALD, CVD и PVD) и других процессов с повышенными температурами. Беспроводные ...
KLA Corporation
... улучшенное покрытие поверхности пластины для получения обширных пространственных данных о температуре по всей пластине. Совместим с мокрыми процессами на одной пластине с толщиной пластины ...
KLA Corporation
... Система измерения ультрафиолетового (УФ) света UV Wafer™ in situ 300 мм использует технологию беспроводных сенсорных пластин для измерения дозы и интенсивности УФ-излучения на поверхности пластины в инструментах ...
KLA Corporation
... шаблонов на подложках Сопутствующие товары Система метрологии масок для 10-нм технологического узла, поддерживающая измерения как стандартных регистрационных меток, так и особенностей рисунка на устройстве. Система ...
KLA Corporation
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки