Оптический прибор для контроля 29xx series
для полупроводниковой пластины с рисунком структурывысокое разрешениедефектов

оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптический
Применение
для полупроводниковой пластины с рисунком структуры
Другие характеристики
высокое разрешение, дефектов

Описание

29xx Широкополосные плазменные системы контроля дефектов полупроводниковых пластин Широкополосные плазменные системы контроля дефектов серии 295x обеспечивают достижения в области оптического контроля дефектов, позволяя обнаруживать критические для производительности дефекты на логике ≤7 нм и передовых узлах памяти проектирования. Используя усовершенствованную технологию широкополосной плазменной подсветки, а также новые технологии pixel-point™ и nano-cell™, широкополосные плазменные дефектоскопы 2950 и 2955 обеспечивают чувствительность, необходимую для регистрации критических дефектов в различных технологических слоях, типах материалов и технологических штабелях. Являясь отраслевым стандартом для поточного мониторинга, чувствительность пар 295x серии 295x со скоростью проверки дефектов оптических пластин позволяет Discovery at the Speed of Light™ - сочетание быстрого обнаружения дефектов и полной характеристики дефектов при оптимальной стоимости владения. Заявления Обнаружение дефектов, Обнаружение горячих точек, Отладка процесса, Инженерный анализ, Мониторинг линии, Обнаружение окна процесса

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги KLA - TENCOR
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.