Тестовый разъем для элемента ИС GD25-HU3PAK-x-S141X142
для корпуса типа ТОдля шлифовкиKelvin

Тестовый разъем для элемента ИС - GD25-HU3PAK-x-S141X142 - JC CHERRY INC. - для корпуса типа ТО / для шлифовки / Kelvin
Тестовый разъем для элемента ИС - GD25-HU3PAK-x-S141X142 - JC CHERRY INC. - для корпуса типа ТО / для шлифовки / Kelvin
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Применение
для элемента ИС, для корпуса типа ТО
Спецификации
для шлифовки, Kelvin, для сварки погружением

Описание

Тестовое гнездо для пакета HU3PAK - Тестовые гнезда, обеспечивающие максимальную производительность SiC/GaN MOSFET - Совместимы с испытаниями на надежность THB и HTRB - Высокопроизводительные контакты собственной разработки обеспечивают стабильность работы в жестких условиях - Кельвиновое соединение (опция) обеспечивает быстрое переключение и точную оценку Сопротивление контактов: 50 мОм макс Номинальный ток: 12A при 25°C (между стоком и истоком) Выдерживаемое напряжение: DC2000V 1мин при 25°C Сопротивление изоляции: 500MΩmin при DC500V Рабочая температура: от -40 до +200°C (включая повышение температуры из-за электрического тока) Совместимость с: STHU32N65DM6AG, STHU36N60DM6AG, STHU47N60DM6AG (STMicroelectronics) и т.д.

---

Каталоги

GD25-HU3PAK-x-S141X142
GD25-HU3PAK-x-S141X142
1 Страницы
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.