Системы позиционирования высокое разрешение

Повторяемость: 1 µm
Нагрузка: 15 kg
Ход: 200 mm - 1 000 mm

... Портал XYZ для высокодинамичных приложений Настраиваемый - Идеально подходит для высокоточных и динамичных применений - Очень большой диапазон перемещения 1300 x 800 мм - Высокие ускорения и скорости в сочетании с высокой точностью Этот ...

Повторяемость: 0,3 µm - 2,5 µm
Нагрузка: 5 kg - 20 kg
Ход: 100 mm - 720 mm

... Двойной инспекционный портал XYZ для полупроводников Настраиваемый - Идеально подходит для автоматизированного контроля полупроводниковых пластин / полупроводников - Очень большой диапазон перемещения 2 x 720 x 720 x 100 мм каждый - ...

Повторяемость: 0,005 µm - 4,4 µm
Нагрузка: 5 kg - 25 kg
Ход: 100 mm - 365 mm

... 8-осевая система позиционирования / угломер Настраиваемый - Автоматизированный 8-осевой контроль под разными углами - Система коаксиального вращения, которая поворачивает камеры / датчики / освещение вокруг общей центральной точки - ...

Повторяемость: 2 µm
Ход: 65 mm
Скорость: 25 mm/s

... Лабораторная аналитическая система XY с держателем для датчика и XY-штативом с диафрагмой Настраиваемая: - Идеально подходит для настройки и расширения задач анализа, сканирования, микроскопии и измерений с высоким разрешением - Крепление ...

Повторяемость: 0,3 µm - 0,7 µm
Ход: 200 mm
Скорость: 15 mm/s - 25 mm/s

... Микроскопическая и инспекционная станция XYZ для высокого разрешения Настраиваемая: - Идеально подходит для контроля образцов - Высокая точность повторяемости до 0,3 мкм - Снижение отклонений измерений до менее чем 3 мкм Эта 3-осевая ...

Повторяемость: 0,002 µm - 2,4 µm
Ход: 135 mm
Скорость: 10 mm/s - 50 mm/s

... X Phi система для позиционирования оптических линз, цилиндров Настраиваемая: - Идеально подходит для оптических измерений круглых деталей, например, пластин, оптики - Экономия на приобретении дополнительной оси загрузки благодаря высокоточным ...

Повторяемость: 0,3 µm - 1,7 µm
Ход: 100 mm - 300 mm
Скорость: 25 mm/s

... Система XYZ для инспекции и контроля качества Настраиваемая: - Очень высокая точность биения и повторяемость до 0,3 мкм - Позиционирование грузов до 150 Н с помощью экономичного привода - Высокая скорость до 50 мм/с - Сокращение случайных ...

Повторяемость: 0,5 µm - 1,5 µm
Ход: 50, 150, 300 mm
Скорость: 25 mm/s

... Система XYZ для лабораторного контроля и контроля пластин Настраиваемая: - Идеально подходит для настройки и расширения вашего приложения - Высокоточная повторяемость до 0,5 мкм - Малейшие шаги и высочайшая надежность при сравнительно ...

Повторяемость: 0,4 µm - 2,2 µm
Ход: 100 mm - 300 mm
Скорость: 1,12 mm/s - 25 mm/s

... XZ System für Labor- und Waferinspektion Настраиваемая: - Идеально подходит для настройки и расширения вашего приложения - Высокоточная повторяемость до 0,4 мкм - Малейшие шаги и высочайшая надежность при сравнительно высокой скорости ...

Повторяемость: 0,3 µm - 0,5 µm
Ход: 50 mm
Скорость: 30 m/s

... Система позиционирования XYZ для лабораторного контроля Настраиваемая: - Идеально подходит для настройки и расширения вашей высокоточной измерительной техники - Очень высокая повторяемость до 0,3 мкм - Наименьшие размеры шага и высочайшая ...

... Многие приложения в науке и промышленности требуют более двух степеней свободы для позиционирования образцов или компонентов. Даже при очень низких температурах и в ограниченном пространстве полезная нагрузка должна перемещаться с высочайшей ...

Повторяемость: 5 µm
Нагрузка: 30 kg
Ход: 300 mm

... Низкопрофильные XY-штативы с открытой рамой предназначены для широкого спектра автоматизированного точного позиционирования в приложениях на базе микроскопов. Приводной механизм расположен на боковой стороне устройства и обеспечивает ...

Повторяемость: 1 µm
Нагрузка: 30 kg
Ход: 300 mm

... Низкопрофильные XY-штативы с открытой рамой предназначены для широкого спектра автоматизированного точного позиционирования в приложениях на базе микроскопов. Приводной механизм расположен на боковой стороне устройства и обеспечивает ...