Автоматические системы подготовки образца Hitachi

... путем изменения направления падающего FIB-направления. Новая разработанная система оценки полупроводниковых приборов состоит из системы FB2200 FIB и HD-2700 200 kV STEM. Система выполняет ...

... - Электрод магнетронного типа уменьшает повреждение образцов и снижает средний размер частиц - Дополнительная камера для образцов диаметром до 6 дюймов (150 мм) - Дополнительная проставка ...

... углеводородами на поверхности образца и облучающим электронным пучком приводит к загрязнению образца. Углеводороды обычно нековалентно прикрепляются к поверхности образца во время обработки, ...

... поперечного сечения, так и плоское фрезерование для подготовки образцов в зависимости от цели. Контроль температуры охлаждения, блок держателя для защиты воздуха и различные опции позволяют готовить образцы ...

... Самая современная система широкого ионного пучка для получения исключительно высококачественных образцов поперечного сечения или плоского фрезерования для электронной микроскопии. ArBlade 5000 оснащен ...

... использовании очистку для подготовки образцов перед анализом, обеспечивая получение наилучших данных из ваших образцов ТЭМ. Поверхности образцов неизбежно загрязняются ...