video corpo

Автоматическая система подготовки образца
для SEM

автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Режим использования
автоматическая
Применение
для SEM

Описание

Это устройство используется для подготовки нужной части пластины к анализу с помощью STEM, TEM и т.д. путем извлечения микрообразца ионным пучком в вакуумной камере системы FIB. Устройство для отбора микрообразцов FIB и метод отбора микрообразцов FIB Пример отбора микрообразцов с помощью FIB Микрообразцы, включающие точку анализа, непосредственно вырезаются из полупроводникового прибора. Микрообразцы вырезаются или обрезаются в различной форме путем изменения направления падающего FIB-направления. Новая разработанная система оценки полупроводниковых приборов состоит из системы FB2200 FIB и HD-2700 200 kV STEM. Система выполняет все операции от поиска дефектных точек до анализа структуры в суб-нанометровом масштабе в течение нескольких часов.

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.