Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей XPS

для анализа

Опция многотехнической сверхвысокочастотной системы для изучения поверхности, обеспечивающая XPS, UPS, AES, SAM, ISS и LEIS, установленная на рабочей станции Hiden SIMS Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия является высокодополнительным методом, предоставляющим информацию об атомном составе и химическом состоянии связей. XPS может использоваться для количественного определения высоких концентраций и, таким образом, идеально подходит для обеспечения калибровочных точек для гораздо более чувствительного метода SIMS. UHV Surface Science Двухкомпонентная камера Hiden SIMS Workstation разработана специально для установки XPS с использованием современных компонентов SPECS® и вместе с наклонными держателями образцов позволяет использовать как XPS, так и SIMS методы на одной платформе UHV без компромиссов. Анализаторы серии PHOIBOS 150 HV - это приборы для анализа высокоэнергетического XPS (HAXPES). Высоковольтные источники питания и высокостабильная конструкция анализатора позволяют проводить фотоэмиссию до кинектической энергии 7 кэВ, что охватывает большинство существующих источников рентгеновского излучения и синхротронных установок. Этот анализатор может работать в высоковольтном режиме и, кроме того, во всех соответствующих режимах анализа, таких как (M)XPS, UPS, а также AES, ISS и LEISS. Его конструкция и модульное дополнительное оборудование делают этот анализатор самым универсальным анализатором ПЭС на рынке. Он может быть легко модернизирован со всеми доступными системами детектирования SPECS. Встроенный детектор 1D-DLD является самой эффективной системой обнаружения. Прямое обнаружение электронных сигналов дает количественное число отсчетов в секунду (cps). Мощная электроника позволяет получать сверхбыстрые моментальные измерения энергетического спектра