Спектрометр масс-спектрометрия с вторичной ионизацией AutoSIMS

для анализаавтоматическийкомпактный

Автоматическая система анализа поверхности Компания Hiden Analytical разработала полностью автономную автоматическую систему анализа поверхности AutoSIMS - инновационный масс-спектрометр вторичных ионов (SIMS), который может выполнять рутинные и повторяющиеся анализы без посторонней помощи. Благодаря полностью автоматизированному X-Y этапу и расширенному держателю, AutoSIMS от Hiden может выполнять сотни процессов в день во время непрерывной круглосуточной работы. Загрязнение силиконом Гибкая солнечная батарея Хирургический стент Электронные материалы Компания Hiden Analytical специализируется на производстве приборов SIMS для наноразмерного профилирования глубины и количественного анализа поверхности множества различных типов образцов, от комплексных рабочих станций до компактных решений SIMS. AutoSIMS включает в себя ту же долговечную пушку для первичных ионов с источником кислорода и анализатор MAXIM, которые используются во всей линейке продуктов Hiden SIMS, с добавлением модульного кассетного держателя образца и управляемого программным обеспечением X-Y этапа для образца. Это обеспечивает основу для высоконадежного обнаружения соответствующих спектров поверхности и трехмерных (3D) профилей глубины без вмешательства человека. Длительный срок службы ионной пушки обеспечивает постоянную высокую стабильность пучка в течение длительных периодов работы, позволяя держателю кассеты и столику для образца непрерывно дозировать образец для высокопроизводительного пакетного анализа. Даже начинающие операторы могут программировать систему автоматического анализа поверхности, настраивая матрицу экспериментальных параметров с помощью простой электронной таблицы.