Четырехполюсный спектрометр ToF-qSIMS

масс-спектрометрия с вторичной ионизациейдля анализадля измерений

Инновационная времяпролетная квадрупольная система SIMS Система Hiden TOF-qSIMS предназначена для анализа поверхности и глубинного профилирования широкого спектра материалов, включая полимеры, фармацевтические препараты, сверхпроводники, полупроводники, сплавы, оптические и функциональные покрытия и диэлектрики, с измерением следовых компонентов до уровня субпм. Анализ поверхности Тонкопленочная и поверхностная инженерия Наука о поверхности Нанотехнологии Топливные элементы Новый анализатор Hiden TOF (времяпролетный анализатор) расширяет возможности SIMS, предоставляя пользователю лучшее из динамического диапазона высокопроизводительного квадрупольного SIMS вместе с преимуществами параллельного сбора данных и анализа молекулярных фрагментов с помощью времяпролетного SIMS, TOF-SIMS. Возможности TOF-qSIMS позволяют получать гиперспектральные изображения для пространственно разрешенного детального анализа материалов. Система TOF-qSIMS предлагает комплексные возможности статической TOF-SIMS и профилирование глубины с высоким динамическим диапазоном от квадрупольной SIMS. Полностью интегрированная и оптимизированная для высокопроизводительного анализа SIMS, система TOF-qSIMS Workstation включает многопортовую камеру сверхвысокого давления, анализатор TOF-SIMS, квадрупольный анализатор SIMS MAXIM компании Hiden, газовую пушку первичных ионов IG20, пушку металлических ионов Cs и держатель образцов, разработанный для размещения самого широкого диапазона образцов. Высокочувствительный режим SNMS включен для количественного анализа металлургических тонких пленок, проводящих и непроводящих оксидов и других материалов сплавов и покрытий. В стандартную комплектацию входят средства для улучшения SIMS, включая наводнение кислородом, нейтрализацию заряда электронов и вакуумную выпечку. Опция программного обеспечения SIMS Mapper для ПК обеспечивает картирование с возможностью 2D и 3D просмотра области образца.