Четырехполюсный спектрометр EQS

масс-спектрометрия с вторичной ионизациейдля анализавысокой чувствительности

Система для анализа вторичных положительных и отрицательных ионов из твердых образцов Компания Hiden Analytical поставляет масс-спектрометрические решения мирового класса и инновационные инструменты для ионного анализа, включая проверенный и надежный Hiden EQS. Этот электростатический квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов (SIMS) с высокой пропускной способностью является одной из наших самых популярных систем детектирования для исследовательского анализа тонкопленочных наноразмерных поверхностей. Анализатор EQS SIMS является идеальным дополнительным анализатором для систем XPS и FIB-микроскопии со сфокусированным ионным пучком. FIB-SIMS для анализа наноразмерных материалов Исследование аккумуляторов Ядерные материалы Исследования поверхности в сверхвысоких температурах Hiden EQS - уникальный электростатический квадрупольный детектор SIMS, специализированный для масс-спектрального анализа как положительных (+ve), так и отрицательных (-ve) вторичных ионов из твердых образцов. Благодаря встроенному электростатическому секторному анализатору энергии ионов под углом 45°, Hiden EQS может одновременно анализировать энергию ионов с разрешением 0,2 электрон-вольт (эВ). Это делает его одним из самых универсальных инструментов для анализа ионов в целом ряде приложений масс-спектрометрии, включая: Расширение диапазона чувствительности XPS более чем в 1000 раз Динамический и статический SIMS Масс-спектрометрия с фокусированным ионным пучком (FIB) Масс-спектрометрия вторичных нейтральных ионов (SNMS) Профилирование глубины напыления Анализ массы/энергии распыленных ионов и нейтральных частиц Hiden EQS - популярное дополнительное оборудование для систем послепродажного обслуживания, идеальное в качестве дополнения к системам XPS и системам FIB-микроскопии с фокусированным ионным пучком. Hiden EQS предлагает высокую чувствительность и дополнительную дифференциальную накачку для удовлетворения потребностей пользователей в визуализации, профилировании глубины и масс-спектральном анализе в различных областях применения.