Источник ионов для масс-спектрометров

Ряд вариантов источников ионов для анализа остаточных газов Компания Hiden производит широкий спектр источников ионов, которые могут быть установлены на весь спектр наших RGA. Тип источника ионов имеет решающее значение для работы RGA, и возможность указать, какой источник вам нужен, обеспечивает индивидуальную конфигурацию наших RGA для конкретных приложений. Термический анализ TA/MS Исследования катализа Кинетика реакций Топливные элементы CVD/MOCVD/ALCVD Экологический мониторинг Стандартный RGA Радиально-симметричная конфигурация для общего применения Низкий профиль UHV Оптимизирован для исследований UHV TPD, позволяя приблизить источник ионов к поверхности эволюции Закрытый источник Для исследований при высоком давлении с прямым вводом газа используется в сочетании с дифференциальной ступенью откачки для анализатора XBS Cross Beam Сконфигурирован специально для мониторинга и контроля скорости осаждения MBE Basic Cross Beam Используется для анализа молекулярных пучков, когда пучок может конденсироваться на поверхности ионизатора. Источник имеет беспрепятственный проход через ионизирующую область источника. Имеются внешние кожухи для защиты квадрупольного масс-фильтра от конденсирующихся видов Источник лазерного перекрестного пучка Включает два ортогональных беспрепятственных пути для лазерной ионизации протонов в области сепаратора источника, обеспечивая альтернативу ионизации электронным ударом и ионизации прикреплением электронов 4-х линзовая ионная оптика со встроенным ионизатором Дополнительно позволяет анализировать положительные и отрицательные ионы низкой энергии, генерируемые вне анализатора. Для исследований с использованием электронов, фотонов и лазерной стимулированной десорбции