Измерительная система для полупроводниковых пластин EPS200MMW

микроскоп

Комплексное решение для измерений ммВт, ТГц и нагрузочных тяг на частоте 67 ГГц и выше. Специализированное решение, удовлетворяющее потребности в измерениях активных и пассивных компонентов в терагерцовом диапазоне частот. Оно обеспечивает высочайший динамический диапазон и направленность - и все это без ущерба для электрической точности и механической стабильности. EPS200MMW - это специализированное измерительное решение, в котором есть все необходимое для эффективного достижения точных результатов измерений, включающее в себя самые известные методы и концепции проектирования для измерений на частотах до ТГц.Благодаря прочной литой раме и пластине с четырехточечной опорой, EPS200MMW обеспечивает превосходную стабильность, что позволяет легко достичь высокой точности. Его полированное гранитное основание исключает любые тепловые или механические воздействия, обеспечивая превосходную плоскостность и стабильность системы. Встроенная виброизоляция и дополнительный виброизолирующий столик поддерживают высокое качество контактов на протяжении всех измерений.Уникальные опции SIGMA™ легко интегрируют головки ммВ и нагрузочные тюнеры от ведущих поставщиков измерительных приборов, обеспечивая высочайший динамический диапазон и направленность без ущерба для электрической точности и механической стабильности. Микроскоп SlimVue™ уменьшает механические помехи для оптики с высоким увеличением, необходимой для измерений на малых площадках