Измерительная система для измерения температуры IMS-K-Power

для полупроводниковых пластиндля полупроводниказащищенная

Комплексная интегрированная измерительная система (ИИС) "под ключ" с КПК Keysight для измерений характеристик силовых полупроводниковых приборов на вафельной поверхности в рамках НИОКР Специалисты по применению FormFactor и партнеры Keysight помогут вам настроить надежное комплексное решение, включая: - Система датчиков FormFactor: TESLA300, TESLA200, T200, EPS150TESLA (доступны другие) - Варианты ручных, полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций - Аналитические зонды FormFactor: зонды высокого напряжения, зонды высокого тока, зонды высокой мощности - Плата высоковольтных/мощных зондов T.I.P.S. "LuPo" (опция) - Полные измерения и автоматизация в диапазоне температур от -60°C до +300°C - Анализатор силовых устройств (PDA) Keysight: B1505A (доступны другие) - Программное обеспечение Keysight для автоматизации и моделирования: EasyEXPERT group+ - Для комплектации системы: кабели, адаптеры, монтажное оборудование и т.д. Самая производительная и точная в отрасли система определения характеристик силовых полупроводниковых приборов При тестировании Si и современных GaN / SiC устройств на пластинах, а не в упаковке, инженеры-исследователи и операторы испытаний сталкиваются с рядом серьезных проблем для сбора высокоточных данных. К ним относятся необходимость защиты зонда и системы от пробоя при высоком напряжении, низкое сопротивление контактов зонда и пластины при высоком токе, а также специальные манипуляции для тонких пластин.