Измерительная система для измерения температуры CM300xi

для полупроводниковых пластиндля калибровкимикроскоп

Лучшая в своем классе производительность измерений при высоком уровне автоматизации в лаборатории* Пробная станция CM300xi решает задачи измерения, возникающие в чрезвычайно сложных условиях, таких как тестирование без присмотра на небольших площадках в течение длительного времени и при различных температурах. Лучшие в своем классе характеристики измерений достигаются для широкого спектра приложений в защищенной от электромагнитных помех, светонепроницаемой и не содержащей влаги тестовой среде. Усовершенствования в области терморегулирования и возможности автоматизации лабораторий позволяют повысить производительность и ускорить время получения данных. CM300xi поддерживает Contact Intelligence™ - уникальную технологию, позволяющую проводить автономные испытания полупроводников. Мощное сочетание инновационного дизайна системы и современной обработки изображений обеспечивает независимое от оператора решение для получения высоконадежных данных измерений в любое время и при любой температуре. Вместе с блоком обработки материалов, зондовая станция CM300xi сочетает в себе полностью автоматизированное испытание полупроводниковых пластин с высочайшей точностью и гибкостью. Система может обрабатывать до пятидесяти 200- или 300-миллиметровых пластин, поставляемых в кассетах для пластин по стандарту SEMI.