Оптическая измерительная система CM300xi-SiPh

полностью автоматическаядля полупроводниковых пластиндля калибровки

300-мм зондовая станция с интегрированным решением для зондирования на уровне кремниевых фотонных пластин и матриц 300-мм зондовая станция CM300xi-SiPh - это первое на рынке проверенное интегрированное измерительное решение, которое позволяет проводить оптимизированные оптические измерения сразу после установки - без дополнительных разработок. Этот уникальный автономный помощник по измерениям SiPh предоставляет новаторский набор функций, которые точно калибруют аппаратуру оптического позиционирования на измерительной станции и проверяют производительность интегрированной системы. В сочетании с революционным OptoVue для расширенных калибровок, интеллектуальными алгоритмами машинного зрения и эксклюзивным SiPh TopHat для темной, экранированной и незамерзающей среды, система обеспечивает настоящую автономную калибровку и повторную калибровку без использования рук при различных температурах. Это позволяет ускорить время получения более точных измерений и снизить стоимость испытаний. Эксклюзивно разработанные компанией FormFactor SiPh-Tools и Photonics Controller Interface (PCI) предоставляют мощные программные инструменты для выравнивания, сбора и анализа данных. Они включают все необходимые алгоритмы для использования волокон и волоконных массивов как с поверхностным, так и с краевым соединением.