Измерительная система для измерения температуры IMS-K-LFN

для полупроводниковых пластин

Комплексная интегрированная измерительная система (ИИС) "под ключ" с Keysight A-LFNA для измерений низкочастотных шумов на подложке при проведении исследований и разработок в области передовых технологий Специалисты FormFactor и партнеры Keysight помогут вам сконфигурировать надежное комплексное решение, включая: - систему датчиков FormFactor: CM300xi-ULN, SUMMIT200 (доступны другие) - Варианты ручных, полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций - Аналитические зонды FormFactor: Зонды DCP (доступны другие) на ручных или моторизованных позиционерах - Программное обеспечение для автоматизации FormFactor DC: Автономный помощник по измерению постоянного тока для неуправляемого измерения температуры на небольших площадках - Полноценные измерения и автоматизация в диапазоне температур от -60°C до +300°C - Усовершенствованный анализатор низкочастотных шумов (A-LFNA) компании Keysight: E4727B - Программное обеспечение Keysight для автоматизации и моделирования: PathWave WaferPro (WaferPro Express) - Для комплектации системы: кабели, адаптеры, монтажное оборудование и т.д. Самая производительная и точная в отрасли усовершенствованная система измерения низкочастотных шумов Измерения 1/f-шума на подложке являются важнейшим компонентом любой системы тестирования для определения характеристик и моделирования. Из-за требуемой чувствительности такое тестирование может быть легко испорчено помехами извне или внутри тестовой системы.