Измерительная система толщина оптическаядля полупроводниковых пластиндля промышленного применения
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Физическая величина
- толщина
- Технология
- оптическая
- Измеренное изделие
- для полупроводниковых пластин
- Место применения
- для промышленного применения, для электроники
- Другие характеристики
- высокой точности, высокоскоростная, 2 оси
Описание
Столкнувшись с предприятиями по производству сырья в верхней части цепочки полупроводниковой промышленности, независимо разработанная спектральная конфокальная измерительная система используется для определения размера и плоскостности полупроводниковых сырых и эпитаксиальных пластин.
Преимущества продукции:
Широкий диапазон применения
Используется для 4-8 дюймовых исходных пластин, подложек и эпитаксиальных пластин из различных материалов и условий полировки
Высокая точность измерения
Диапазон толщины: 0-1 мм Точность измерения: ± 1 мк М Точность повторения: 0,2 мк м
Короткое время измерения
Время измерения: 30 с / PCS (в соответствии с траекторией обнаружения клиента)
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Farley LaserlabДругие изделия Farley Laserlab
Specialized Products for Semiconductor Industry
Расширенный поиск
- Измерительная машина
- Оптическая измерительная машина
- Измерительная машина высокой точности
- Измерительная система для промышленного применения
- Измерительная машина толщина
- Высокоскоростная измерительная машина
- Измерительная машина для электроники
- Измерительная система для полупроводниковых пластин
- Измерительная машина 2 оси
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.