＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
ОписаниеAOI-системы для инспекции лазерных via с минимальным диаметром обнаружения до 10 µm. Galaxy LV series — семейство моделей, разработанное для поддержки инспекции слепых лазерных via при крупносерийном производстве передовых HDI или IC подложек. ...
CIMS
... Описание
AOI‑системы для инспекции сквозных лазерных via с минимальным детектируемым диаметром до 20 µm. Galaxy VIA series — семейство моделей, разработанных для поддержки инспекции сквозных лазерных via при массовом производстве современных ...
CIMS
... Описание
Phoenix MDI, CIMS AOI-система, разработана для инспекции механических сверлений на HDI и многослойных печатных платах. Система способна инспектировать механические сверления диаметром до 150 µm. Оптическая технология Microlight™ обеспечивает ...
CIMS
... Точность и гибкость с помощью системы искусственного интеллекта Инспекционная система nLine анализирует широкий спектр продукции для определения ее качества в ходе непрерывного производства или индивидуального контроля. Три высокоскоростные камеры непрерывно ...
... Инспектор дефектов поверхности - однокамерный Однокамерный дефектоскоп поверхности (SI1100) фиксирует, анализирует и оценивает поверхность сварных швов или плоских изделий, таких как прутки, ленты или профили. Серия SI является наиболее тщательным методом ...
Вследствие высоких требований, предъявляемых рынком к качеству этикеток, интерес к системам 100%-ного контроля постоянно растет. Высокие требования к качеству привели к тому, что во многих областях продукт без 100%-ного контроля не может попасть к конечному ...
Erhardt + Leimer
... -Осмотр полотна материала на наличие отверстий -Измерение размера отверстий (в зависимости от версии) -Верификация и возможность автоматического MSA -Протоколы PDF, экспорт данных CSV -Компоненты подключены к сети Ethernet и могут обслуживаться через ...
Erhardt + Leimer
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки