＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во всем диапазоне энергий ...
... Приводы для фокусировки пьезоприемника серии MIPOS предназначены для тонкой настройки микрообъектива и объектива или для регулировки всего носового отсека (MIPOS N100). Отличительной особенностью этих приводов является их компактность и параллелограммная ...
Пространственное разрешение: 0,02 µm
... Обзор продукта
Атомно-силовой микроскоп (wafer-level AFM) — это высокоразрешающий зондовый сканирующий прибор, предназначенный для характеристики трехмерной морфологии поверхности и многофункциональных свойств проводников, полупроводников и ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки