- Метрология - Лабораторное дело >
- Проверка и Наблюдение >
- Многоосевой прибор для контроля
Многоосевые приборы для контроля
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
оптический прибор для контроляTR7007D/DI Plus series
Ширина диапазона контроля: 400 mm - 765 mm
Высота диапазона контроля: 330 mm - 610 mm
Транспортная грузоподъемность: 5 kg
... Введение
Платформа 3D SPI TR7007D/DI Plus оснащена улучшенным контроллером движения (EtherCAT) и усиленным 2D-модулем подсветки. TR7007D/DI Plus способна точно инспектировать низкие паяльные мостики и компенсировать прогиб платы для устранения ...
TRI Test Research Europe GmbH
Ширина диапазона контроля: 510 mm
Высота диапазона контроля: 510 mm
... Введение
TR7500QE Plus — это следующее поколение 3D AOI с боковым обзором и несколькими камерами для инспекции печатных плат. Экономичная 3D AOI-платформа объединяет алгоритмы на базе ИИ и улучшенные механические возможности для высокоточной ...
TRI Test Research Europe GmbH
... Серия JR3000 оснащена мощной системой визуального контроля для создания многофункционального инспекционного робота. Прослеживаемость Автоматическое сохранение результатов инспекции и информации о штрих-коде Диапазон инспекции до 500 мм инспекционная ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки