Эллипсометры

... Auto SE - спектроскопический эллипсометр, изготовленный компанией HORIBA Scientific. Он позволяет автоматически анализировать образцы тонкой пленки простым нажатием кнопки. Через несколько секунд формируется полный аналитический отчет, ...

... Линейка спектроскопических эллипсометров M-2000® разработана для удовлетворения разнообразных требований к определению характеристик тонких пленок. Передовая оптическая конструкция, широкий спектральный диапазон и быстрый сбор данных ...

... Конструкция RC2® основывается на 25-летнем опыте. Она сочетает в себе лучшие характеристики предыдущих моделей с инновационными новыми технологиями: двойные вращающиеся компенсаторы, ахроматическая конструкция компенсатора, усовершенствованный ...

... ISE - это новый спектроскопический эллипсометр in situ, разработанный для мониторинга процесса обработки тонких пленок в режиме реального времени. Используя нашу проверенную технологию, iSE позволяет пользователям оптимизировать оптические ...

... Theta-SE - это кнопочный спектроскопический эллипсометр для определения однородности тонких пленок. Он оснащен передовыми приборами эллипсометрии в компактном корпусе по доступной цене. Полностью интегрированный Theta-SE оснащен 300-миллиметровым ...

... Для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя преломления этот эллипсометр позволяет установить образец, выбрать модель, соответствующую вашей пленке, и нажать кнопку "измерить". Вы получите результаты в течение нескольких ...

... VASE® - это точный и универсальный эллипсометр для исследования всех типов материалов: полупроводников, диэлектриков, полимеров, металлов, многослойных материалов и др. Он сочетает в себе высокую точность и прецизионность с широким спектральным ...

... IR-VASE® - первый и единственный спектроскопический эллипсометр, сочетающий химическую чувствительность ИК-Фурье спектроскопии с чувствительностью спектроскопической эллипсометрии тонких пленок. IR-VASE охватывает широкий спектральный ...

... Спектроскопический эллипсометр с переменным углом VUV-VASE® является золотым стандартом для оптической характеризации тонких пленок для литографии. Он измеряет длины волн от вакуумного ультрафиолета (VUV) до ближнего инфракрасного (NIR). ...

... Программное обеспечение PHE спектроскопического эллипсометра имеет библиотеку моделей и пленок с заранее заданными параметрами измерения, что позволяет оператору выбрать приложение и быстро выполнить измерение. Библиотека содержит несколько ...

... Серия UNECS представляет собой своего рода спектроскопические эллипсометры для быстрого и точного измерения коэффициента преломления и толщины тонкой пленки. Он принимает уникальный метод измерения, и реализует компактный размер и высокоскоростные ...