Спектроскопический эллипсометр

спектроскопический эллипсометр
спектроскопический эллипсометр
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Спецификации
спектроскопический

Описание

Horiba предлагает большой ряд разрешений для проверки качества тонкой пленки. Широкий массив ellipsometer как in-situ и in-line использован в контролируя процессах в исследовании и в индустрии. От тонкой пленки контролируя к составлять карту обширного района и встроенная характеризации гибких приборов. In-situ спектроскопические ellipsometers позволяют в реальном масштабе времени контроль и контролировать низложения тонкой пленки с разрешением sub-монослоя. Оно обеспечивает в реальном масштабе времени оценку толщины пленки и оптически констант.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги HORIBA Scientific

Другие изделия HORIBA Scientific

other products

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.