Спектроскопический эллипсометр iSE

ISE - это новый спектроскопический эллипсометр in situ, разработанный для мониторинга процесса обработки тонких пленок в режиме реального времени. Используя нашу проверенную технологию, iSE позволяет пользователям оптимизировать оптические свойства осажденных пленок, контролировать рост пленки с суб-ангстремной чувствительностью и отслеживать кинетику роста. Мощный Благодаря возможности спектроскопической эллипсометрии (SE), iSE способен измерять толщину и оптические свойства с гораздо большей точностью, чем другие методы. Компактный Новый компактный дизайн позволяет легко интегрировать прибор в любую камеру. Универсальный Точное определение толщины и оптических свойств для широкого спектра тонких пленок, включая металлы, полупроводники, оксиды, нитриды и др. Доступный Возможности спектроскопической эллипсометрии по разумной цене. Простой в использовании Удобный интерфейс для анализа роста и травления тонких пленок в режиме реального времени.