Спектроскопический эллипсометр alpha-SE

Для рутинных измерений толщины тонкой пленки и показателя преломления этот эллипсометр позволяет установить образец, выбрать модель, соответствующую вашей пленке, и нажать кнопку "измерить". Вы получите результаты в течение нескольких секунд. Простой в использовании Кнопочное управление дополняется усовершенствованным программным обеспечением, которое сделает всю работу за вас. Мощный Проверенная технология спектроскопического эллипсометра позволяет определить толщину и индекс с гораздо большей достоверностью, чем другие методы. Гибкий Работает с вашими материалами - диэлектриками, полупроводниками, органикой и другими. Доступный Спектроскопическая эллипсометрия для простых систем образцов. Быстро Сотни длин волн одновременно собираются за считанные секунды, что позволяет получить немедленные результаты.