Системы подготовки образца для SEM Leica

1 Компания | 9 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM ACE900

... нуждаются в защите от образования артефактов. Подготовьте образцы для детальной оценки изображения в оптимальных условиях: - Холодный щит вокруг образца предотвращает замерзание молекул воды на образце - ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM VCT500

... переноса образцов между различными системами подготовки и анализа, образцы должны быть защищены от загрязнения и образования кристаллов льда, вызванных недостаточной ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
EM TXP

... Leica EM TXP - это устройство подготовки мишеней для фрезерования, пиления, шлифования и полировки образцов перед проведением экспертизы по методикам РЭМ, ТЭМ и ЛМ. Встроенный стереомикроскоп позволяет ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM TIC 3X

... по организации рабочего процесса обеспечивают безопасную и эффективную передачу образцов на последующие инструменты подготовки или аналитические системы. Гибкая система ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM TRIM2

... TRIM2 - это высокоскоростная фрезерная система со встроенным стереомикроскопом и кольцевым светодиодным осветителем для обрезки биологических и промышленных образцов до ультрамикротомии. Leica TRIM2 ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
ARTOS 3D

... для массивной томографии с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). Экономьте время и усилия при подготовке биологических образцов и процедуре настройки СЭМ, чтобы вы могли быстро получить ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM FC7

... подготовьте крио-секции (от -15 ° до -185 ° C) для TEM, SEM, AFM и LM. Вы всего в четырех шагах от идеальных крио-секций Основные характеристики Большой комфорт и хранение секций Нагретые стенки камеры ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
автоматическая система подготовки образца
автоматическая система подготовки образца
EM ACE200

... использовании системы нанесения покрытий Leica EM ACE200. Конфигурируемые в качестве напыляющего устройства или устройства для испарения углеродной нити, идеально воспроизводимые результаты могут быть достигнуты в полностью ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
система подготовки образца для SEM
система подготовки образца для SEM
EM ACE600

... EM ACE600 - универсальный прибор для осаждения пленок в высоком вакууме, предназначенный для применения в системах FE-SEM и TEM Нужен ли вам - повысить контрастность за счет мелкозернистого металлического ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки