Микроскопы для измерений Thermo Fisher

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

микроскоп SEMApreo ChemiSEM

для анализов биомедицинский метрологии

микроскоп SEM

Apreo ChemiSEM

Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... Scientific ChemiSEM интегрирует возможности энергодисперсионной спектроскопии (EDS) непосредственно в пользовательский интерфейс микроскопа, что упрощает анализ и помогает получать надежные результаты с минимальной погрешностью ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

микроскоп SEMPhenom ParticleX AM

для анализов для измерений для контроля качества

микроскоп SEM

Phenom ParticleX AM

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 10 nm

... наблюдать большие образцы размером до 100 мм x 100 мм. Анализ аддитивного производства Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom ParticleX - это многоцелевой настольный СЭМ, предназначенный ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR

метрологии для испытания материалов для полупроводника

электронный сканирующий микроскоп

Verios 5 XHR

Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm

... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

электронный сканирующий микроскопQuattro ESEM

метрологии промышленный для контроля качества

электронный сканирующий микроскоп

Quattro ESEM

Пространственное разрешение: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Экологический растровый электронный микроскоп (ESEM) для изучения материалов в их естественном состоянии. Экологический сканирующий электронный микроскоп Quattro Thermo Scientific Quattro ESEM сочетает ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

микроскоп SEMApreo 2

для анализов метрологии для контроля качества

микроскоп SEM

Apreo 2

Пространственное разрешение: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... пользователей с разной степенью опыта. Время работы с микроскопом дорого, и необходимо избегать чрезмерных затрат времени на обслуживание, юстировку, обучение или оптимизацию изображения. Сканирующий электронный микроскоп ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондомScios 2

для анализов для исследований метрологии

микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом

Scios 2

Пространственное разрешение: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Вес: 5 kg

... электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерной характеризации. Thermo Scientific Scios 2 DualBeam - это аналитическая система сканирующей ...

Добавить к сравнению Удалить из сравнения

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

{{product.productLabel}} {{product.model}}