Автоматизированные микроскопы Thermo Fisher

1 Компания | 12 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Apreo ChemiSEM

Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... непосредственно в пользовательский интерфейс микроскопа, что упрощает анализ и помогает получать надежные результаты с минимальной погрешностью для пользователя. Благодаря алгоритмам квантования в реальном времени и автоматизированной ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Phenom Pure G6

Увеличение : 160 unit - 175 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 15 nm

... использовании настольный SEM с надежными функциями автоматизации. Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom Pure - идеальный инструмент для перехода от светооптической ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп для батареи
микроскоп для батареи
Phenom ParticleX

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования батарей. Анализ передовых материалов для батарей Настольный СЭМ Phenom предназначен для анализа материалов батарей При производстве и исследовании ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп проверка стали
микроскоп проверка стали

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 000 nm

... Настольный SEM обеспечивает высокое качество производства стали за счет анализа отказов и совершенствования процессов. Металлургам и исследователям в области производства стали необходимы данные сканирующей электронной ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Phenom ParticleX TC

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... частиц, выходящих за рамки световой микроскопии в (автомобильной) промышленности, настольная СЭМ Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) позволяет проводить автоматизированную сканирующую электронную ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Phenom Perception GSR

... с помощью SEM EDX Анализ остатков выстрела (GSR) играет важную роль в определении того, было ли огнестрельное оружие использовано в преступлении. Устоявшиеся методы анализа GSR основаны на использовании сканирующего ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Axia ChemiSEM

Пространственное разрешение: 3, 8, 7 nm
Вес: 10 kg

... действительно доступный SEM без ущерба для гибкости. Нашей целью было сделать микроскопию легким и приятным занятием, в котором вам не придется бороться с микроскопом для получения качественных ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Volumescope 2

Пространственное разрешение: 1, 0,8, 0,7 nm
Ширина: 340 mm

... визуализацией лица и многоэнергетической деконволюцией. Сканирующий электронный микроскоп Volumescope 2 для серийной блочной обработки изображений Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Volumescope ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 DualBeam

Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g

... удовлетворения потребностей исследователей и инженеров в области материаловедения для широкого спектра задач сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) - даже для самых сложных образцов. Helios ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 PFIB DualBeam

Пространственное разрешение: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm

... электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (сканирующий ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки