Оптический микроскоп Axio Imager Vario
для контролядля лабораторийдля материалов

оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для лабораторий, для контроля, для материалов
Эргономика
прямой
Метод наблюдения
конфокальный с лазерным сканером
Источник света
со светодиодным освещением
Другие характеристики
с цифровой камерой, автоматизированный, механизированный, для больших проб, для полупроводниковых пластин
Увеличение

МИН.: 1 unit

МАКС.: 150 unit

Описание

Анализируйте мельчайшие МЭМС-датчики или целые плоские панели с помощью ZEISS Axio Imager Vario. Его колонная конструкция позволяет одновременно исследовать очень большие образцы, обеспечивая высокую стабильность. Кроме того, Axio Imager Vario сертифицирован для использования в чистых помещениях. Изучение больших образцов Совместимость с чистыми помещениями Всегда в фокусе Изучение больших образцов Выберите ручную или моторизованную колонну и воспользуйтесь преимуществами, позволяющими исследовать образцы с максимальным размером 300 мм × 300 мм и максимальной высотой 254 мм. При работе с тяжелыми образцами или в сочетании с конфокальным лазерным сканирующим микроскопом ZEISS LSM для материалов - прочная конструкция колонны обеспечивает надежную устойчивость и предотвращает вибрации К проверке пластин и фотомасок предъявляются чрезвычайно строгие требования в отношении чистоты. Поэтому они проводятся в чистых помещениях. Они классифицируются в соответствии с DIN EN ISO 14644-1, различаясь по количеству и размеру частиц на м³. Axio Imager Vario сертифицирован в соответствии с этим стандартом и отвечает требованиям класса чистоты 5. Класс чистого помещения ISO 5 эквивалентен классу 100 бывшего стандарта FED STD 209E (1992). В фокусе в любое время При исследовании отражающих, малоконтрастных поверхностей просто оснастите ваш Axio Imager Vario эффективной аппаратной автофокусировкой. Она гарантирует высокую точность как для отраженного, так и для проходящего света. Датчик обнаруживает изменения в положении фокуса, и любые отклонения компенсируются автоматически. Даже крупные образцы остаются идеально сфокусированными при перемещении.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги ZEISS Métrologie industrielle

Другие изделия ZEISS Métrologie industrielle

Systems

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.