Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Метрология и Испытания
  3. Измерительная система критического размера
  4. TZTEK Technology Co.,ltd

Измерительная система критического размера MT3000VIS/IR
инфракраснаяс камеройдля полупроводника

Измерительная система критического размера - MT3000VIS/IR - TZTEK Technology Co.,ltd - инфракрасная / с камерой / для полупроводника
Измерительная система критического размера - MT3000VIS/IR - TZTEK Technology Co.,ltd - инфракрасная / с камерой / для полупроводника
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Физическая величина
критического размера
Технология
с камерой, инфракрасная
Измеренное изделие
для полупроводника

Описание

Инфракрасная система TZTEK занимает лидирующие позиции в мире. Система сочетает в себе высокопроизводительную инфракрасную камеру с оптимизированной по конструкции инфракрасной оптикой для получения изображений с отличным разрешением и контрастностью. Эффективное измерение характеристик сверху, снизу и внутри подложки. основные характеристики -Доступность для индивидуальных решений по обработке -Комбинация видимого и инфракрасного освещения в отраженном и проходящем режимах -SECS/GEM -Низкие эксплуатационные расходы, стабильность и надежность

---

Это автоматический перевод.  (просмотреть оригинал на английском языке)

Другие изделия TZTEK Technology Co.,ltd

Semiconductor

Посмотреть всю продукцию TZTEK Technology Co.,ltd
Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.