Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Метрология и Испытания
  3. Измерительная система критического размера
  4. TZTEK Technology Co.,ltd

Измерительная система критического размера IRIS
инфракраснаяс камеройдля полупроводника

измерительная система критического размера
измерительная система критического размера
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 
Более подробная информация на сайте TZTEK Technology Co.,ltd

Характеристики

Физическая величина
критического размера
Технология
с камерой, инфракрасная
Измеренное изделие
для полупроводника

Описание

Инфракрасная система TZTEK занимает лидирующие позиции в мире. Система сочетает в себе высокопроизводительную инфракрасную камеру с оптимизированной по конструкции инфракрасной оптикой для получения изображений с отличным разрешением и контрастностью. Эффективное измерение характеристик сверху, снизу и внутри подложки. основные характеристики -Оптимизированная инфракрасная оптическая система, длина волны инфракрасного света до 1500 нм -Возможны индивидуальные решения по обработке -Комбинация видимого и инфракрасного освещения в отраженном и проходящем режимах -SECS/GEM

---

Это автоматический перевод.  (просмотреть оригинал на английском языке)

Более подробная информация на сайте TZTEK Technology Co.,ltd

Другие изделия TZTEK Technology Co.,ltd

Semiconductor

Посмотреть всю продукцию TZTEK Technology Co.,ltd
Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.