Электронный сканирующий микроскоп Prisma E SEM
для исследованийпромышленныйвторичных электронов

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный сканирующий
Применение
для исследований, промышленный
Тип детектора
вторичных электронов, катодолюминесценция
Пространственное разрешение

3 nm, 7 nm

Вес

5 kg
(11 lb)

Описание

Сканирующий электронный микроскоп для промышленных исследований и разработок с возможностью использования в качестве сканирующего электронного микроскопа окружающей среды. Экологический сканирующий электронный микроскоп Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Prisma E сочетает в себе широкий спектр возможностей визуализации и анализа с передовой автоматизацией, предлагая наиболее полное решение среди приборов своего класса. Он идеально подходит для промышленных исследований и разработок, контроля качества и анализа отказов, где требуется высокое разрешение, гибкость образцов и простой в использовании интерфейс оператора. Prisma E SEM пришел на смену очень успешному Thermo Scientific Quanta SEM. ESEM с EDS Уникальное сочетание доступной универсальной производительности, большого набора аксессуаров и интуитивно понятного элементного анализа с помощью Thermo Scientific ColorSEM делает РЭМ Prisma E лучшим РЭМ для получения микромасштабных изображений и анализа в любой отрасли и сфере. Характеристики сканирующего электронного микроскопа Prisma E Информация об элементах на кончиках ваших пальцев Окрашивание изображений на основе состава в реальном времени для интуитивного элементного анализа с помощью опциональной технологии ChemiSEM и встроенной энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS). Ускорьте свою работу и получите наиболее полную информацию об образце с помощью постоянно включенного анализа. Превосходное качество изображения Отличное качество изображения при низком кВ и низком вакууме благодаря гибким вакуумным режимам, включая дифференциальную откачку через объектив. Одновременная визуализация вторичных электронов (SE) и обратно рассеянных электронов (BSE) в каждом режиме работы. Минимизация времени подготовки образцов Низкий вакуум и возможность ESEM позволяют получать изображения без заряда и анализировать непроводящие и/или гидратированные образцы.

---

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.