Электронный сканирующий микроскоп Prisma E SEM
для исследованийпромышленныйвторичных электронов

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный сканирующий
Применение
для исследований, промышленный
Тип детектора
вторичных электронов, катодолюминесценция
Пространственное разрешение

3 nm, 7 nm

Описание

Сканирующий электронный микроскоп для промышленных исследований и разработок с возможностью сканирования электронного микроскопа окружающей среды. Сканирующий электронный микроскоп для окружающей среды Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Prisma E сочетает в себе широкий спектр методов визуализации и анализа с передовой автоматизацией, предлагая наиболее полное решение из всех приборов своего класса. Он идеально подходит для промышленных исследований и разработок, контроля качества и анализа отказов, где требуется высокое разрешение, гибкость образцов и простой в использовании интерфейс оператора. Prisma E SEM пришел на смену весьма успешной модели Thermo Scientific Quanta SEM. ESEM с EDS Уникальное сочетание доступной универсальной производительности, большого набора аксессуаров и самого интуитивно понятного элементного анализа с Thermo Scientific ColorSEM делает РЭМ Prisma E лучшим РЭМ для получения микромасштабных изображений и анализа в любой отрасли и сфере. Особенности сканирующего электронного микроскопа Prisma E Информация об элементах на кончиках ваших пальцев Окрашивание изображений на основе состава в реальном времени для интуитивного элементного анализа с помощью опциональной технологии ChemiSEM и встроенной энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS). Ускорьте свою работу и получите наиболее полную информацию об образце с помощью постоянно включенного анализа. Отличное качество изображения Отличное качество изображения при низком кВ и низком вакууме благодаря гибким вакуумным режимам, включая дифференциальную откачку через линзу. Одновременная визуализация вторичных электронов (SE) и обратно рассеянных электронов (BSE) в любом режиме работы. Минимизация времени подготовки образцов Низкий вакуум и возможность ESEM позволяют получать изображения без заряда и анализировать непроводящие и/или гидратированные образцы.

---

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.