- Продукция
- Каталоги
Оптический прибор для контроля Xceed MICRO3Dдля полупроводникадля электронной промышленности
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Технология
- оптический, 3D
- Применение
- для полупроводника
- Сектор
- для электронной промышленности
- Другие характеристики
- автоматизированный, для измерений, высокое разрешение, высокоскоростной
Описание
Обзор
- Сверхточный 3D AOI для упаковки полупроводников
- Сверхбыстрый и высокоточный метод лазерного линейного сканирования
- Прекрасный контроль даже сильно спекшихся поверхностей
- Эффективность контроля не зависит от цвета, материала или шероховатости поверхности
- SiP (System in Package)
- Присоединение матрицы
- Underfill
- Паяльная паста и неровности
- Клип на матрице
- IGBT
- Другие предметы, связанные с упаковкой полупроводников
- Xceed MICRO (представлен на этой странице)
- Сопутствующие названия продукции на сайте: AXION, PRECION, ARTION
- Тип: 3D AOI (Automated Optical Inspection) для полупроводниковой упаковки
- Метод визуализации: Лазерное линейное сканирование (чрезвычайно быстрое, с высоким разрешением)
- Возможность 3D-измерений для сверхточного контроля
- Разработано для контроля сильно спекулирующих (отражающих) поверхностей
- Инспекция нечувствительна к изменениям цвета, материала и шероховатости поверхности
- Типичные объекты контроля: SiP, прикрепление матрицы, заполнение подложки, паяльная паста и неровности, Cu клипса на матрице, IGBT и т.д.
---
Другие изделия PARMI Europe GmbH
Semiconductor
Расширенный поиск
- Прибор для контроля
- Автоматический прибор для контроля
- Оптический прибор для контроля
- Прибор для контроля для измерений
- Прибор для контроля для электронной промышленности
- Высокоскоростной прибор для контроля
- Прибор для контроля высокое разрешение
- Автоматизированный прибор для контроля
- Прибор для контроля 3D
- Линейный прибор для контроля
- Прибор для контроля для печатной платы
- Бесконтактный прибор для контроля
- Прибор для контроля для полупроводниковой пластины
- Прибор для контроля для небольших деталей
- Прибор для контроля для полупроводника
- Прибор для контроля с высокой частотой
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.