Сканирующий лазерный измеритель смещения поверхности. Сканирование по оси Z для точности и разрешения. Сканирование по оси X для обеспечения стабильности. Трансперенциальные мишени не являются проблемой.
ОСОБЕННОСТИ
Высокоточный метод сканирования поверхности
Отличное разрешение 0,3 мкм
Быстрые и простые функции настройки
Многочисленные режимы измерения для широкого спектра применений
---