video corpo
cad

Анализатор для наблюдения EA-300
элементныйнастольныйавтоматизированный

Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный - изображение - 2
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный - изображение - 3
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный - изображение - 4
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный - изображение - 5
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный - изображение - 6
Анализатор для наблюдения - EA-300 - Keyence - элементный / настольный / автоматизированный - изображение - 7
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Область применения
для наблюдения
Измеряемая величина
элементный
Конфигурация
настольный
Режим использования
автоматизированный
Технология
лазер
Другие характеристики
с поддержкой ИИ

Описание

Наблюдение и мгновенная идентификация материалов Элементный анализ одним щелчком мыши Не требуется предварительная обработка или вакуум Автоматическая идентификация материалов Представляем элементный анализатор для использования с микроскопами VHX. Просто поместите объект на сцену, чтобы провести элементный анализ без разрушения, осаждения или вакуума. Рекомендации на основе искусственного интеллекта позволяют любому человеку идентифицировать материалы или инородные вещества. Идентификация веществ непосредственно с помощью микроскопа Операция "помести и проанализируй Элементный анализ можно выполнить одним щелчком мыши. Пользователи могут легко переходить от наблюдения с увеличением к элементному анализу без необходимости повторной настройки или фокусировки лазерной объективной линзы. Не требуется предварительная обработка или вакуум Неразрушающий анализ без изменений возможен на объектах любого размера. Для анализа не требуется обработка электропроводностью или вакуумирование. Автоматическая идентификация материалов Наносекундный лазерный импульс / плазменная эмиссия Обнаруженные элементы анализируются. Встроенная функция искусственного интеллекта рекомендует наиболее вероятный обнаруженный материал. База данных также может быть использована для сбора исторических результатов собственного анализа для справки при обнаружении аналогичных инородных частиц.

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.