Тестовый разъем для транзисторов GD18-TO263-7-K-109-TEKB

Тестовый разъем для транзисторов - GD18-TO263-7-K-109-TEKB - JC CHERRY INC.
Тестовый разъем для транзисторов - GD18-TO263-7-K-109-TEKB - JC CHERRY INC.
Тестовый разъем для транзисторов - GD18-TO263-7-K-109-TEKB - JC CHERRY INC. - изображение - 2
Тестовый разъем для транзисторов - GD18-TO263-7-K-109-TEKB - JC CHERRY INC. - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Спецификации
для транзисторов

Описание

TO-263-7/D2-PAK Скокеты + оценка Набор тестовых плат - Набор гнезд и плат для различных силовых транзисторов, подходит для использования в оценочных испытаниях. - Индивидуальный дизайн и производство доступны по запросу, поэтому, пожалуйста, обращайтесь к нам.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги JC CHERRY INC.
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.