Система контроля для стеклянной поверхности GI5400

загрязнения

Система контроля стеклянных пластин для контроля загрязнения при производстве ЖК-панелей и органических ЭЛ-панелей малого и среднего размера. Собственная технология Hitachi позволяет раздельно определять переднюю и заднюю поверхности для тонких стеклянных пластин. Высокая надежность обеспечивает высокую чувствительность обнаружения, высокоскоростной контроль и наблюдение загрязнений с большим увеличением. Идеально подходит для контроля загрязнений в процессах производства панелей. - Поддерживает листовое стекло Толщина стекла: 0,3 мм - 0,7 мм; максимальный размер стеклянного листа: 1300 мм × 1500 мм - Точное раздельное обнаружение передней и задней поверхности Коэффициент разделения передней и задней поверхности: 150 (передняя поверхность: φ0,3 мкм; задняя поверхность: φ50,0 мкм; толщина голого стекла: 0,7 мм) - Высокая чувствительность обнаружения Поверхностные загрязнения φ0,3 мкм - Высокоскоростная инспекция 1300 мм × 1500 мм за 90 секунд (2-головочная оптическая система, высокоскоростной режим φ1,0 мкм) - Загрязнения можно увидеть на мониторе при большом увеличении