- Метрология - Лабораторное дело >
- Проверка и Наблюдение >
- Система контроля для стеклянной поверхности
Системы контроля для стеклянной поверхности
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
система контроля с инфракрасной камеройGIS 640i G7 series
... Стекло с низкой излучательной способностью (Low-E), широко используемое для изготовления окон и фасадных элементов для повышения энергоэффективности зданий, создает значительные проблемы для традиционных инфракрасных (ИК) устройств. Этот тип стекла представляет ...
... Стекло с низкой излучательной способностью (Low-E), широко используемое в энергоэффективных окнах и фасадных компонентах, представляет собой уникальную проблему для традиционных инфракрасных (ИК) систем измерения температуры. Разработанное со специальным ...
... Система контроля стекла для управления технологическим процессом в машинах для закалки стекла С помощью новой системы контроля стекла можно быстро определить разницу температур во время процесса закалки стекла, что позволяет избежать брака и обеспечить ...
... Максимальная контролируемая скорость оптического волокна: до 4000 м/мин. Оптимальный контроль для оптических волокон толщиной даже менее 200 микрон Система BOW - Optical Fibre Band Detection позволяет проверить: отсутствие маркировки/колец, избыток маркировки/колец, ...
... Система GWI была создана для обнаружения дефектов стеклянных пластин на ранних стадиях производственного цикла. Система основана на интеллектуальной камере с высоким разрешением для обеспечения требуемой точности обнаружения дефектов. Полная оценка пластины ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo