Испытательная система для лаборатории MX710D SiC

для полупроводниковнепереноснаясверхточная

Описание продукта
Серия MX710D представляет собой лабораторную динамическую испытательную систему для SiC, состоящую из программируемого высокоточного источника постоянного тока, блока оснастки (fixture), блока измерения и управления, блока управления драйвером, защитного блока и сопутствующих испытательных приборов. Применяется фирменное программное обеспечение для системных испытаний, обеспечивающее стабильную и точную платформу для оценки динамических параметров SiC‑устройств, включая характеристики включения, выключения, обратного восстановления диода и поведение при коротком замыкании.

Особенности продукта

• Предназначено для лабораторного применения с полным набором функций тестирования; поддерживает одиночные, двойные импульсы и испытания на короткое замыкание;
• Имеется защита от перегрузки по току, быстро разрывающая токовую цепь при отказе устройства;
• Очень низкая паразитная индуктивность благодаря компактной конструкции для проведения высокоскоростных коммутационных испытаний SiC;
• Высокая совместимость: настраивается для различных устройств, модулей и схем с помощью соответствующей конфигурации оборудования и оснастки;
• Удобный интерфейс человек‑машина для простоты эксплуатации.

Интерфейс продукта / Изображения
(На странице представлены несколько заполнителей для демонстрационных изображений; на реальной странице отображаются схемы продукта и скриншоты интерфейса)

Область применения
Подходит для лабораторий по тестированию динамических характеристик силовых устройств из карбида кремния (SiC) для верификации параметров и НИОКР.

Характеристики / Технические спецификации (кратко)

• Модель: серия MX710D;
• Применяемые устройства: силовые устройства SiC (карбид кремния);
• Состав системы: программируемый источник постоянного тока, блок оснастки, блок измерения и управления, блок управления драйвером, защитный блок и сопутствующие испытательные приборы;
• Поддерживаемые типы испытаний: включение, выключение, обратное восстановление диода, короткое замыкание; поддержка одиночных и двойных импульсов;
• Функции защиты: защита от перегрузки по току с быстрым прерыванием цепи;
• Требования к конструкции: низкая паразитная индуктивность для проведения высокоскоростных коммутационных испытаний SiC‑устройств;
• Программное обеспечение: фирменное системное программное обеспечение для испытаний и HMI.