Испытательная система рабочих характеристик MX700KGD-600

не определенодля БТИЗнепереносная

Введение продукта
Серия MX700KGD — это автоматизированная система динамического/статического скрининга чипов для тестирования bare dies, преимущественно для SiC MOS и IGBT. Система состоит из тестового блока, автоматизированного оборудования и сборки probe card, и выполняет измерения номинального тока и напряжения для оценки электрических характеристик и целостности die.

Работа
Подъемный механизм тестовой станции поднимает носитель die до контакта щупов probe card с die. Давление в камере probe card герметично, предусмотрена автоматическая калибровка высоты die для обеспечения стабильного контакта.

Техническая спецификация
Технические параметры динамических тестов
Технические параметры статических тестов

Особенности

• Полное покрытие типов тестов с возможностью конфигурации функций по запросу заказчика, включая визуальный контроль и динамические/статические тесты при высокой или комнатной температуре;
• Поддержка высоковольтных и высокотоковых испытаний для проверки номинальных характеристик bare dies;
• Низкие паразитные параметры: паразитная индуктивность системы менее 20 nH;
• Высокая производительность: тестовый UPH до 600 шт. и более;
• Газовая защита для предотвращения искрообразования и окисления во время тестирования.

Характеристики / Технические детали

• Применимые устройства: динамический/статический скрининг силовых dies, таких как SiC MOS и IGBT;
• Состав системы: тестовый блок, автоматизированное оборудование (носитель die, подъемный механизм) и сборка probe card;
• Возможности тестирования: измерение номинального тока и номинального напряжения и проведение сортировки по результатам;
• Подъем и контакт: подъемный механизм тестовой станции перемещает носитель die до контакта со щупами; камера давления probe card обеспечивает герметичный и стабильный контакт;
• Автокалибровка: функция автоматической калибровки высоты die;
• Электрические характеристики: поддержка высоковольтных и высокотоковых тестов для соответствия номинальным спецификациям bare dies;
• Паразитные параметры: паразитная индуктивность системы < 20 nH;
• Производительность: тестовый UPH ≥600 шт./час;
• Защита: газовая оболочка для предотвращения искрения и окисления при тестировании;
• Конфигурируемость: функции и конфигурации тестирования настраиваются по требованиям заказчика, поддержка визуального контроля и динамических/статических тестов при различных температурах.