Система динамических испытаний IGBT состоит из высокоточного программируемого источника питания постоянного тока, блока приспособления, блока отбора и управления, блока привода, блока защиты и вспомогательных измерительных приборов. Благодаря программному обеспечению, самостоятельно разработанному компанией Kewell, система обеспечивает стабильную и точную платформу для тестирования динамических характеристик IGBT.
Функции
Тест на включение (Pon, Eon)
Тест на выключение (Poff, Eoff)
Свойства обратного восстановления диода
Характеристики короткого замыкания
Тест QG затворного заряда
Преимущества продукта
Универсальные функции тестирования: одноимпульсный тест, двойной импульсный тест и тест на короткое замыкание.
Возможность обработки с низкой паразитной индуктивностью.
Защита от перегрузки по току и возможность быстрого отключения тока.
Высокая точность измерений.
Широкий выход напряжения и многоступенчатая индуктивная нагрузка. Удовлетворяют разнообразным требованиям динамических испытаний.
Функция мониторинга в реальном времени, регистрация и анализ данных.
Шаг испытания и переменные защиты могут быть настроены в режиме онлайн.
.тест на включение (Pon, Eon)
.тест на выключение (Poff, Eoff)
.характеристики обратного восстановления диода
---