Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Прибор для контроля качество
  4. CIMS

Прибор для контроля для полупроводников
качество

Прибор для контроля для полупроводников - CIMS - качество
Прибор для контроля для полупроводников - CIMS - качество
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Применение
для полупроводников
Спецификации
качество

Описание

Дополнительные метрологические опции CIMS предназначены для дальнейшего расширения возможностей контроля полупроводниковых устройств. Эти опции могут быть интегрированы в оборудование CIMS, обеспечивая нашим клиентам новый уровень контроля качества. Дополнительные опции CIMS включают уникальные возможности 2D- и 3D-метрологии, позволяющие выполнять расширенные измерения в ходе обычного цикла контроля. Это устраняет необходимость в использовании автономных специализированных метрологических систем и сокращает цикл обратной связи по обеспечению качества.

---

Это автоматический перевод.  (просмотреть оригинал на английском языке)

Другие изделия CIMS

Semiconductors Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.
О DirectIndustry
DirectIndustry — это торговая площадка, которая предлагает участникам B2B полный спектр услуг, от поиска продукции до покупки. DirectIndustry является частью VirtualExpo Group.
Вы покупатель?
Вы поставщик?
О нас