＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 20 nm
... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) ...
... Микроскоп с перевернутым излучением представляет собой систему анализа с обратной стороны, предназначенную для определения мест возникновения неисправностей путем обнаружения света и тепла, излучаемых от дефектов полупроводниковых приборов. Обнаружение ...
... Микроскоп с перевернутым излучением представляет собой систему анализа с обратной стороны, предназначенную для определения мест возникновения неисправностей путем обнаружения света и тепла, излучаемых от дефектов полупроводниковых приборов. Обнаружение ...
... PHEMOS-1000 - это эмиссионный микроскоп с высоким разрешением, который определяет места неисправностей в полупроводниковых приборах, выявляя слабые световые и тепловые излучения, вызванные дефектами полупроводниковых приборов. Так как ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось